近日，在主要電子加熱模式下，等離子體所李二眾課題組應用GEM相機獲得R-Z平面內鐵雜質的二維分布，觀測到其輸運和等離子體宏觀擾動。相關研究結果發表在Nuclear Fusion期刊上。

　　由于電子動理學效應的影響，等離子體雜質輸運和湍流會跟隨電子離子溫度之比發生變化，進而影響約束性能。實驗上通過射頻波加熱提高電子溫度，此時等離子體具有很強的軔致輻射，同時重雜質線輻射進入軟X射線波段。利用二維GEM相機觀察軟X波段的輻射，其反演過程不依賴平衡位形，在分析宏觀擾動和雜質輸運方面具有優勢。芯部電子溫度～3keV時，高電離態鐵對GEM計數率貢獻顯著增強。高約束ELM-free至ELMy轉化期間，電子溫度剖面內外不對稱時，在中平面上下觀測到拉長的宏觀擾動，擾動驅使雜質和能量向低場側輸運，導致芯部雜質濃度和溫度梯度降低，等離子體約束性能下降。

　　以上工作得益于等離子體所相關科研人員的鼎力支持，以及中科院青年創新促進會、國家自然科學基金等項目的資助。

　　論文鏈接：https://dx.doi.org/10.1088/1741-4326/ab36bb 

　　圖1.電子加熱模式條件下芯部Fe雜質濃度分布

　　圖2.R-Z平面發射率擾動項