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近期，等離子體所李二眾團隊在EAST高電子溫度（芯部電子溫度8keV）H-mode運行中，利用GEM相機在國際聚變領域首次測得軟X射線波段能譜在二維空間（R-Z）上的分布。為研究EAST芯部重雜質種類、分布以及R-Z空間上的大尺度輸運等物理過程奠定了實驗基礎。
托卡馬克及聚變堆高參數運行下固有重雜質聚芯對裝置安全運行及聚變功率產額有重要影響，然而，潛在的機理并不清楚。近幾年，國際主要大裝置都在搭建二維GEM（Gas Electron Multiplier）相機，在二維空間上開展相關實驗研究。自2017年開始，等離子體所和意大利ENEA聚變研究所合作共同研究GEM在EAST上的應用，2018年在EAST首次獲得二維通量分布，2019年4月2日首次同時獲得二維通量和能譜分布。
GEM相機通量分布（左），R向能譜分布（中），Z向能譜分布（右）
